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測(cè)量前,請(qǐng)仔細(xì)清除磁頭和測(cè)量點(diǎn)的油污和灰塵,以免影響測(cè)量結(jié)果。
使用 Mikrotest 6 型(自動(dòng)型)
如圖(1、2)所示,將Mikortest 麥考特G6測(cè)厚儀置于被測(cè)表面;將指輪(5)向前旋轉(zhuǎn)到滿刻度以上部位(對(duì)于Nife50 和Ni50 是向前推到0 位)。讓磁頭(3)吸附在被測(cè)表面;按下按鈕(9),指輪會(huì)自動(dòng)地順時(shí)針旋轉(zhuǎn),直到磁頭跳起,刻度盤(pán)也隨之自動(dòng)停止轉(zhuǎn)動(dòng),同時(shí)聽(tīng)到“呵噠”一聲。
此時(shí),刻度盤(pán)上的讀數(shù)即為所測(cè)量覆層的厚度值。
注意:推動(dòng)指輪時(shí),不能觸動(dòng)按鈕(9);指輪只能逆時(shí)針推動(dòng),切勿順時(shí)針推動(dòng)。
在平面上測(cè)量
測(cè)量面方位對(duì)于測(cè)量沒(méi)有影響,注意技術(shù)數(shù)據(jù)表中所列的zui小測(cè)量范圍和基體的厚度。
在曲面上測(cè)量
測(cè)量圓柱或圓形邊緣時(shí),可以利用儀器測(cè)嘴上的 V 型口,如圖(5)所示。測(cè)量凹面時(shí)與測(cè)量平面相同,但要注意zui小曲率的限制。
在粗糙表面測(cè)量
在粗糙表面測(cè)量時(shí),讀數(shù)將增大(特別是在顆粒尖上)。在特別粗糙(如峰值超過(guò)50um 的鋼基體上,并且涂層厚度超過(guò)100um 時(shí),實(shí)際讀數(shù)高于涂層真實(shí)厚度達(dá)20%之多。在這種情況下應(yīng)至少測(cè)量6 次以上,得出平均值。
檢查度
測(cè)厚儀裝有磁鋼,在正常使用時(shí)是不會(huì)發(fā)生變化的。通常只需偶爾或在懷疑讀數(shù)的正確性時(shí)去測(cè)量厚度標(biāo)準(zhǔn),進(jìn)行調(diào)整。對(duì)于這種測(cè)量可采用EPK 公司的厚度標(biāo)準(zhǔn)件。
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