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地 址:上海市浦東外高橋自貿(mào)區(qū)富特東三路526號(hào)5號(hào)樓311室
德國(guó)菲希爾臺(tái)式儀器,使用庫(kù)倫法測(cè)量幾乎所有金屬鍍層厚度,無(wú)論基材是金屬或非金屬,無(wú)論鍍層結(jié)構(gòu)是單鍍層還是多鍍層。電解測(cè)厚儀又叫做庫(kù)侖法測(cè)厚儀,應(yīng)用于電鍍層的測(cè)厚。電解測(cè)厚儀可以解決裝飾鉻層測(cè)厚、鎳層測(cè)厚、銅層測(cè)厚、鋅層測(cè)厚、錫層測(cè)厚、銀層測(cè)厚、金層測(cè)厚、鎘、硬鉻、化學(xué)鎳、多層鎳等鍍層測(cè)厚問(wèn)題。電解測(cè)厚儀具有測(cè)試多層復(fù)合測(cè)量模式等特點(diǎn),適用于汽車(chē)摩托車(chē)、航空航天、自行車(chē)、電器、日用五金、潔具衛(wèi)浴、塑膠電鍍、釹鐵硼、標(biāo)準(zhǔn)件等行業(yè)及技術(shù)監(jiān)督部門(mén)及科研機(jī)構(gòu)。
CULOSCOPE CMS 是菲希爾的臺(tái)式裝置,用于測(cè)量單層或多層金屬或非金屬基材上金屬涂層的庫(kù)侖法涂層厚度。 它測(cè)量厚度從 0.05 到 40 微米不等。 它還通過(guò)帶有 V18 支架的泵控制,對(duì)測(cè)量池進(jìn)行自動(dòng)灌裝和排空操作。 該裝置與支持操作并顯示涂層結(jié)果的圖形液晶顯示器集成。 此外,該標(biāo)準(zhǔn)符合 DIN EN ISO 2177 標(biāo)準(zhǔn)。Couloscope CMS 庫(kù)侖儀這是一款依據(jù)庫(kù)侖原理設(shè)計(jì)的儀器,Couloscope CMS 庫(kù)侖儀配備:V24、V26、V18 等測(cè)量臺(tái),和F1 ~ F22 等電解液,可完成各種磁感應(yīng)和渦流等無(wú)法測(cè)量的檢測(cè)工作。但是該方式是有損測(cè)量,將會(huì)在樣本上腐蝕出一個(gè)測(cè)量斑點(diǎn)。STEP儀器高的電壓分辨率可以測(cè)量頂層為微孔鎳或微裂紋鎳與下層光亮鎳之間的電位,以及光亮鎳和半光亮鎳之間的電位。
1、Fischer菲希爾Couloscope CMS2測(cè)厚儀( 庫(kù)侖測(cè)量系統(tǒng))使用庫(kù)侖方法測(cè)量鍍層厚度。配備了一一個(gè)大的,易讀取的液晶顯示器,直觀的菜單指引系統(tǒng),該儀器理想的適用于測(cè)量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度,包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測(cè)試方法的場(chǎng)合。
2、Fischer菲希爾Couloscope CMS2測(cè)厚儀準(zhǔn)確地測(cè)量范圍在0.05- 40 μm ( 0.002 - 1.6 mils )之間的金屬鍍層。該設(shè)備可以存儲(chǔ)上百條預(yù)先定義好的鍍層/基材應(yīng)用,從單鍍層,例如鋅在鋼上,直至三鍍層,例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。
3、用來(lái)測(cè)定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個(gè)單個(gè)的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學(xué)電位差。在電鍍I業(yè)中,對(duì)多層鎳的測(cè)量變得越來(lái)越重要了,雙層鎳的測(cè)量已成為-種標(biāo)準(zhǔn)的操作。
測(cè)量臺(tái):
COULOSCOPE® CMS STEP 雙層鎳鍍層測(cè)量版本 4種不同類(lèi)型的測(cè)量臺(tái)適合于測(cè)量各種種類(lèi)的被測(cè)物體。
測(cè)量臺(tái)V18有1個(gè)新的測(cè)量槽設(shè)計(jì)。由于在每次測(cè)量后有一個(gè)泵會(huì)自動(dòng)地排出電解液至儲(chǔ)液箱內(nèi),也就不再需要手動(dòng)清空測(cè)量槽了,一次注滿(mǎn)測(cè)量槽就可以多次測(cè)量。
測(cè)量臺(tái)V24允許靈活定位小工件。
測(cè)量臺(tái)V26主要為簡(jiǎn)單和平面形狀的物體而設(shè)計(jì)。
測(cè)量臺(tái)V27主要為在線材上測(cè)量而設(shè)計(jì)。
主要特性
? 吸引人的設(shè)計(jì),大的液晶顯示器和清晰安排的鍵盤(pán)。
? 操作簡(jiǎn)單,菜單指引的操作提示。
? 電解區(qū)域直徑從0.6 mm (24 mils) 至3.2 mm (128 mils)。
? 大約100個(gè)預(yù)先定義好的應(yīng)用程式適用于大多數(shù)的金屬鍍層,包括測(cè)量線材。
? 可用于測(cè)量Au、Cd、Cr、Pd、Ni、Sn、Zn、Pb、Pb60Sn40、Brass 等金屬
? 基材可為 Cu and Cu-Alloy、Al and Al-Alloy、Zn and Zn-Alloy、Ni、Fe、非金屬材料等